扫描电子显微镜

扫描电子显微镜（SEM）是一种强大的显微镜，利用电子束扫描样品表面，以获取高分辨率的图像。与传统光学显微镜不同，SEM能够观察到纳米级别的细节，广泛应用于材料科学、生物学和纳米技术等领域。在扫描过程中，电子束与样品相互作用，产生二次电子和其他信号，这些信号被探测器收集并转换为图像。通过调整电子束的能量和聚焦，研究人员可以获得样品的形貌、成分和结构等信息，帮助他们深入理解材料的特性和行为。