透射電子顯微鏡

透射電子顯微鏡（TEM）是一種高解析度的顯微鏡，利用電子束穿透樣本來觀察其內部結構。與光學顯微鏡不同，TEM 能夠提供納米級的影像，適合用於材料科學、生物學和納米技術等領域。在TEM中，樣本需要非常薄，以便電子能夠穿透。電子束通過樣本後，會在螢光屏或攝影底片上形成影像，研究人員可以分析這些影像以獲取樣本的形態和組成信息。

Atomic Force Microscope Cryo-Electron Microscopy Scanning Electron Microscope

Microscopy

Electron Microscopy

Transmission Electron Microscopy

透射電子顯微鏡

透射電子顯微鏡（TEM）是一種高解析度的顯微鏡，利用電子束穿透樣本來觀察其內部結構。與光學顯微鏡不同，TEM 能夠提供納米級的影像，適合用於材料科學、生物學和納米技術等領域。在TEM中，樣本需要非常薄，以便電子能夠穿透。電子束通過樣本後，會在螢光屏或攝影底片上形成影像，研究人員可以分析這些影像以獲取樣本的形態和組成信息。

Atomic Force Microscope Cryo-Electron Microscopy Scanning Electron Microscope