透射电子显微镜

透射电子显微镜（TEM）是一种高分辨率的显微镜，利用电子束穿透样品以获取图像。与光学显微镜不同，TEM能够观察到纳米级别的细节，广泛应用于材料科学、生物学和纳米技术等领域。在TEM中，样品必须非常薄，以便电子能够透过。电子束经过样品后，会在荧光屏或相机上形成图像，研究人员可以分析样品的结构和成分。TEM的高分辨率使其成为研究纳米材料和细胞结构的重要工具。